Testmethoden fir d'Leeschtung vun engem elektrooptesche Modulator

Testmethoden fir d'Leeschtung vunelektrooptesche Modulator

1. Hallefwellespannungstestschrëtt firelektroopteschen Intensitéitsmodulator

Wann een d'Hallefwellespannung um HF-Uschloss als Beispill hëlt, sinn d'Signalquell, den Apparat, deen getest gëtt, an den Oszilloskop iwwer en Dräi-Wee-Apparat verbonnen. Beim Test vun der Hallefwellespannung um Bias-Uschloss, verbënnt se no der gepunkelter Linn.

b. Schalt d'Liichtquell an d'Signalquell un a leet e Sägewellesignal (déi typesch Testfrequenz ass 1 kHz) op den Apparat un, deen getest gëtt. De Sägewellesignal Vpp soll méi grouss wéi dat duebelt vun der Hallefwellespannung sinn.

c. Schalt den Oszilloskop un;

d. Den Ausgangssignal vum Detektor ass e Kosinussignal. Schreift d'Séiwellenspannungswäerter V1 an V2 op, déi den ugrenzende Spëtzten an Déiften vun dësem Signal entspriechen. e. Berechent d'Halbwellenspannung no der Formel (3).

2. Testschrëtt fir d'Hallefwellespannung vunelektrooptesche Phasenmodulator

Nodeems den Testsystem ugeschloss gouf, muss den optesche Weeënnerscheed tëscht den zwee Äerm, déi d'optesch Interferometerstruktur bilden, bannent der Kohärenzlängt leien. D'Signalquell an den HF-Terminal vum getesten Apparat, souwéi de Kanal 1 vum Oszilloskop, sinn iwwer en Dräi-Wee-Apparat verbonnen. Nodeems den Testsystem ugeschloss gouf, muss den optesche Weeënnerscheed tëscht den zwee Äerm, déi d'optesch Interferometerstruktur bilden, bannent der Kohärenzlängt leien. D'Signalquell an den HF-Terminal vum getesten Apparat, souwéi de Kanal 1 vum Oszilloskop, sinn iwwer en Dräi-Wee-Apparat verbonnen, an den Input-Port vum Oszilloskop gëtt op en héichohmigen Zoustand agestallt.

b. Schalt de Laser an d'Signalquell un, a leet e Sägezännwellesignal mat enger bestëmmter Frequenz (typesche Wäert 50 kHz) op den Apparat un, deen getest gëtt. Den Ausgangssignal vum Detektor ass e Kosinussignal. De Vpp vum Sägezännwellesignal soll méi grouss sinn wéi dat duebelt vun der Hallefwellespannung, awer net méi wéi den Inputspannungsberäich vum Modulator iwwerschreiden, sou datt den Ausgangskosinussignal vum Detektor op d'mannst ee komplette Zyklus weist.

c. Schreift d'Séiwellenspannungswäerter V1 an V2 op, déi den ugrenzende Spëtzten an Déiften vum Kosinussignal entspriechen;

d. Berechent d'Hallefwellespannung no der Formel (3).

3. Insertion Loss vun elektrooptesche Modulatoren

Testschrëtt

Nodeems Dir d'Liichtquell an de Polarisator verbonnen hutt, schalt d'Liichtquell un an test d'optesch Inputleistung Pi vum getesten Apparat mat engem optesche Leeschtungsmesser.

b. Verbënnt den Apparat, deen getest gëtt, mam Testsystem a verbënnt d'Ausgangsklemmen vun der reglementéierter Stroumversuergung mat de Pins 1 (GND) an 2 (Bias) vumModulateur(bei verschiddene Chargen vu Modulatoren muss de Pin 1 vum Modulator och mam Gehäuse verbonne sinn).

c. Ajustéiert d'Ausgangsspannung vun der reglementéierter Stroumversuergung a testt déi maximal Liesung vum optesche Leeschtungsmesser als Pout.

d. Wann den Apparat, deen getest gëtt, e Phasenmodulator ass, ass et net néideg, eng Spannungsstabilisator-Stroumversuergung derbäizesetzen. De Pout kann direkt vum optesche Leeschtungsmesser ofgelies ginn.

e. Berechent den Insertion Loss no der Formel (1).

Virsiichtsmoosnamen

a. Den opteschen Input vum elektrooptesche Modulator däerf de Kalibrierungswäert am Testbericht net iwwerschreiden; soss gëtt denEO-Modulatorwäert beschiedegt ginn.

b. Den HF-Input vum elektrooptesche Modulator däerf de Kalibrierungswäert um Testblat net iwwerschreiden; soss gëtt den EO-Modulator beschiedegt.

c. Beim Opstelle vun engem Interferometer ginn et relativ héich Ufuerderungen un d'Benotzungsëmfeld. Ëmweltschütterungen a Schwéngunge vun der optescher Faser kënnen d'Testergebnisse beaflossen.