Wéi eng Ausrüstung ass fir d'Produktioun an d'Tester vun 800G optesche Moduler noutwendeg?

Wéi eng Ausrüstung ass fir d'Produktioun an d'Tester vun 800G optesche Moduler noutwendeg?

Den Test vun 800Goptesch Modulerenthält Empfangsleistungstester an Iwwerdroungsleistungstester. D'Lëscht vun den Haaptausrüstungen an d'Logik sinn wéi follegt:
1. Testausrüstung
1.1MCB Trägerplat
Konfiguréiert zwou MCB-Carrier-Boards fir den DUT-Modul respektiv de Standardmodul ze placéieren. Den optesche Modul gëtt an d'Carrier-Board agebaut a mat engem High-Speed-HF-Kabel mam Fehlercode-Meter verbonnen. Zwee Carrier-Boards kënnen d'Onofhängegkeet vum RX-Test an dem TX-Test garantéieren. Wann e Loopback-Test benotzt gëtt, gëtt nëmmen eng Carrier-Board gebraucht. Den 800G optesche Modul erfuerdert en 8T8R optesche Wee, wat dem Ufuerderungsgrad vun 16 Puer Differentialsignaler fir de Gold Finger entsprécht, dat heescht 32 HF-Kabelen/Carrier-Boards.
1.2 Temperaturkontrollausrüstung
MCB-Traierplatten si meeschtens mat Temperatur- an Detektiounsapparater ausgestatt, fir d'Testleistung bei verschiddenen Temperaturen z'ënnerstëtzen. Temperaturkontrollausrüstung gëtt normalerweis op der MCB-Traierplatte vum DUT gelueden. D'Integratioun vun der Temperaturkontroll op der MCB-Traierplatte kann d'Ausrüstung vereinfachen.
1.3 Feelercode-Analysator
Konfiguréiert zwee 800G Bitfehler-Tester fir PRBS-Sequenzen auszestéieren an RX- respektiv TX-Tester unzeféieren. Wann de Standard-optesche Modul d'PRBS-Sequenz ënnerstëtzt, kann en ee Bitfehlerdetektor späicheren an den ieweschte Computer benotze fir de Standard-optesche Modul ze befeelen, d'Testsequenz ze schécken. RX-Undriffstest (Bitfehlertest): Generéiert eng Testsequenz, empfänkt d'Réckreessequenz a vergläicht de Feeler tëscht dem Sender an dem Empfänger, dat heescht de Bitfehler. TX-Undriffstest (Aendiagrammtest): Generéiert eng Testsequenz fir den DUT, an den DUT emittéiert Liicht no dëser Sequenz. Déi intern Integratioun vun der MCB-Carrierplatine an der Temperaturkontrollausrüstung am Fehlercode-Analysator kann d'Ausrüstung weider vereinfachen.
1.4CDR Auerausrüstung
Den optesche Signal gëtt periodesch geschéckt, an den CDR identifizéiert de Rand vun dëser Zäitperiod aus dem optesche Signal.
1.5 Oszilloskop
Geméiss dem Timing-Signal, dat vum CDR geliwwert gëtt, ginn d'optesch Signaldaten periodesch iwwerlagert, fir en Aendiagramm ze bilden. Wann den Oszilloskop 4 Inputen an 800G-Tester ënnerstëtzt, da sinn zwou Eenheeten erfuerderlech. Méi deier, wann Dir Sue spueren wëllt, kënnt Dir e Liichtschalter benotzen fir ze wiesselen.
1.6Opteschen Schalter
Wiesselt den optesche Wee tëscht Aendiagrammtest a Leeschtungstest.
1.7Optesche Leeschtungsmesser
Miessung vun der optescher Ausgangsleistung, 8 Kanäl. Den optesche Leeschtungsmesser kann an den optesche Schalter integréiert ginn, wat d'Ausrüstung vereinfacht.
1,8 Gläichstroumversuergung
Liwwert eng stabil Gläichstroumversuergung un d'MCB-Traierplatine.

2. Logik vun der Testsystemkonstruktioun
2.1. RX-Empfangsleistungstest (Bitfehlerrate, Empfindlechkeet)
Signalfluss: Fehlercode-Analysator 2 → Standard-Optikmodul → Opteschen Dämpfer → DUT → Fehlercode-Analysator 1
Schlësselausrüstung: opteschen Dämpfer (benotzt fir d'Scannen vun Steckdousen), Standard-optesche Modul (benotzt als Liichtquell).
Zweck: D'Bitfehlerquote vun engem DUT bei verschiddenen optesche Leeschtungen ze moossen, andeems d'Dämpfungsquantitéit geännert gëtt.
2.2. TX-Emissiounsleistungstest (Aendiagramm, optesch Leeschtung)
Signalverlaf: Fehlercode-Analysator 1 → DUT → Optesche Schalter → (Leeschtungsmesser/Oszilloskop+CDR)
Schlësselausrüstung: Optesche Schalter (Routewiessel), CDR (Takterréckgewinnung, fir PAM4-Signaler).
Zweck: D'Leeschtung vum ausgestraalten Liicht an d'Signalqualitéit ze verifizéieren (den Aendiagramm soll déi dräi "Aen" vum PAM4 weisen).
3. Schlësselpunkte vun der spezieller Konfiguratioun fir 800G-Tester
Kanalquantitéit: 800G benotzt 8 Kanäl (8T8R), an d'Metallfanger vun der MCB-Carrier-Board mussen 16 Puer Differentialsignaler (32 RF-Kabel) entspriechen.
Signaltyp: Fir PAM4-Modulatioun muss den Oszilloskop mat CDR-Ausrüstung gekoppelt ginn, fir den Aendiagramm präzis opzehuelen.
Vereinfacht Léisung: De Feelerdetektor kann MCB- a Temperaturkontrollfunktiounen integréieren. Den optesche Schalter kann mat engem optesche Leeschtungsmesser integréiert ginn. Wann e Loop-Back-Test (DUT Self Collecting) benotzt gëtt, kann een eng MCB-Carrierplatine a Standardmodul reduzéieren, awer d'Testelementer kënne limitéiert sinn.

4、Erklärung vun de Schlësselbegrëffer
PRBS: Pseudo-zoufälleg Sequenz, déi e reellen Datenverkéier simuléiert.
MCB: Modulkonformitéitsträgerplatte, Testausrüstung.
CDR: Auerdatenrettung, Extraktioun vun der Auer aus optesche Signaler.
PAM4 Aendiagramm: véierstufeg Pulsamplitudemodulatioun, Aendiagramm weist véier Schrëtt (dräi Aenöffnungen)